Начало div  FAQ  div  Поиск  div  Пользователи  div  Группы  div  Избранное  div  Регистрация  div  Вход 
Список форумов Microscopist.ru arrow Микроанализ arrow особенности анализа высоких образцов

особенности анализа высоких образцов
Начать новую тему   Ответить на темуОтветить
Автор Сообщение
jrrw
Бывалый

Сообщения: 98
Зарегистрирован: 11.04.2004
Откуда: Минск. Физтех.
СообщениеДобавлено: Вт 16 Март 2010 13:33    Заголовок сообщения: особенности анализа высоких образцов Ответить с цитатой

подскажите, почему не получается проанализировать образцы, у которых высота много больше ширины? не могу сообразить, в чем загвоздка.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение Отправить e-mail ICQ Number
Sergey
Дед

Сообщения: 1886
Зарегистрирован: 05.11.2004
Откуда: Санкт-Петербург
СообщениеДобавлено: Вт 16 Март 2010 14:47    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

А что значит "не получается"?
_________________
Он же: SergeyIT, Cthutq.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение Отправить e-mail
jrrw
Бывалый

Сообщения: 98
Зарегистрирован: 11.04.2004
Откуда: Минск. Физтех.
СообщениеДобавлено: Вт 16 Март 2010 14:49    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

не собирается спектр. растет сплошным фоном.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение Отправить e-mail ICQ Number
vklsi2
Бывалый

Сообщения: 288
Зарегистрирован: 18.02.2009
СообщениеДобавлено: Вт 16 Март 2010 17:15    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

У Вас наверняка есть чертеж рентгеновского детектора с указанием, на каком рабочем отрезке (WD) он должен работать, и надо это соблюдать. Т.е. если образец высокий, то нужно выставить фокус на этом "аналитическом рабочем отрезке", а потом опускать образец, пока картинка с места анализа не станет четкой (т.е. окажется в фокусе).
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
jrrw
Бывалый

Сообщения: 98
Зарегистрирован: 11.04.2004
Откуда: Минск. Физтех.
СообщениеДобавлено: Вт 16 Март 2010 17:23    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

vklsi2 писал(а):
У Вас наверняка есть чертеж рентгеновского детектора с указанием, на каком рабочем отрезке (WD) он должен работать, и надо это соблюдать. Т.е. если образец высокий, то нужно выставить фокус на этом "аналитическом рабочем отрезке", а потом опускать образец, пока картинка с места анализа не станет четкой (т.е. окажется в фокусе).

безусловно, это было соблюдено. я бы не спрашивал, если бы это не повторялось.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение Отправить e-mail ICQ Number
vklsi2
Бывалый

Сообщения: 288
Зарегистрирован: 18.02.2009
СообщениеДобавлено: Вт 16 Март 2010 17:55    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Тогда возьмите какую-нибудь пластинку (кремния, или алюминиевую фольгу, или просто столик без образца) и постройте карту распределения основного элемента на самых малых увеличениях (при аналитическом рабочем отрезке). На ней Вы сможете увидеть, как далеко от оси микроскопа находится рабочая область детектора. Бывает, что образцом сдвигают коллиматор детектора, тогда он смотрит совсем не туда.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
injener
Дед

Сообщения: 3196
Зарегистрирован: 21.12.2004
Откуда: Московская область
СообщениеДобавлено: Чт 16 Декабрь 2010 18:30    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Цитата:
безусловно, это было соблюдено
А может быть, что это соблюдено в отношении столика, но не образца? Т.е., я хочу сказать, что столик стоит на нужной отметке, а исследуемая часть образца при этом намного выше и не видна детектору...
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение Отправить e-mail
jrrw
Бывалый

Сообщения: 98
Зарегистрирован: 11.04.2004
Откуда: Минск. Физтех.
СообщениеДобавлено: Пт 17 Декабрь 2010 10:54    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

нет, ну не такой уж я [...]. конечно, относительно образца. бывает, что после перезагрузки компьютера все приходит в норму, но не всегда.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение Отправить e-mail ICQ Number
Makses
Бывалый

Сообщения: 37
Зарегистрирован: 07.05.2009
СообщениеДобавлено: Пт 17 Декабрь 2010 10:59    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

может быть вопрос с зарядкой образца... У себя, на геологических образцах, я часто сталкивался с проблемой анализа образцов высотой 12-15мм. Но обычно всё решалось путем наклеивания "токосъемной" дорожки из углеродного скотча. Может быть дело в этом?
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение Отправить e-mail AIM Address
pust2
Бывалый

Сообщения: 327
Зарегистрирован: 07.08.2006
Откуда: Владивосток
СообщениеДобавлено: Вс 19 Декабрь 2010 10:11    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

У нас без проблем, ставлю пленку на торец и смотрю, что там в торце. Без мистики.
Толщина пленки 40 мкм, планарно 5*5 мм. Для оксида алюминия - запыляю углеродом...
Обычные картинки скана, микроанализ получается. Не пробовал только SIMS. Но ионный пучок травит как обычно.
Цитата:
перезагрузки компьютера

Хотя, если после перезагрузки становится лучше, то видимо проблема не в геометрии...
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение Посетить сайт автора
Показать сообщения:   
Начать новую тему   Ответить на темуОтветить
Страница 1 из 1


о проекте || новости || публикации || оборудование || события
фотогалерея
|| форум || спонсоры || ссылки

©2002 - Microscopist.ru - портал микроскопистов
:главная :контакты :карта сайта :faq :помощь Rambler's Top100 Рейтинг@Mail.ru
Powered by phpBB © 2001-2003 phpBB Group | Часовой пояс: GMT + 3