Начало div  FAQ  div  Поиск  div  Пользователи  div  Группы  div  Избранное  div  Регистрация  div  Вход 
Список форумов Microscopist.ru arrow РЭМ (Методы) arrow Метрология...

Метрология...
Начать новую тему   Ответить на темуОтветить
Автор Сообщение
pust2
Бывалый

Сообщения: 329
Зарегистрирован: 07.08.2006
Откуда: Владивосток
СообщениеДобавлено: Пн 29 Декабрь 2008 04:48    Заголовок сообщения: Метрология... Ответить с цитатой

Всем привет!
С наступающим!
Подскажите, кто знает как сертифицировать сканы на метрологические измерения, чтобы проводить исследования с выдачей бумажки?
Знаю, только, что нужен аттестованный прибор, аттестованная методика и аттестованный специалист. Если с первым понятно, то как быть со вторым и третьим. Где можно отучиться и получить соотв. сертификаты?
Еще раз с наступающим....
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение Посетить сайт автора
injener
Дед

Сообщения: 3196
Зарегистрирован: 21.12.2004
Откуда: Московская область
СообщениеДобавлено: Пн 29 Декабрь 2008 10:26    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Был такой Никитин, который "залетовал" методику сертификации... Где-то уже мы эту тему "обкатывали"... Но, по-моему, это туфта. И с точки зрения метрологии тоже. Чистой воды политика... Rolling Eyes Для аттестации нужны приборы более высокого класса, чем аттестуемые. А чем тогда аттестовать какие-нибудь "Титаны", например?.. Или там "Хттачи" автоэмиссионные...
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение Отправить e-mail
pust2
Бывалый

Сообщения: 329
Зарегистрирован: 07.08.2006
Откуда: Владивосток
СообщениеДобавлено: Вт 30 Декабрь 2008 03:43    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Нет, вопрос не в том, чтобы иметь приборы более высокго класса. Например для калибровки увеличений в ПЭМ используется тестовый образец, а не другой прибор Mr. Green
Например надо проверить размер частиц, на скане и выдать справку для таможни...
Есть размеры, есть методика измерений и есть человек владеющий методикой, считатеся, что эти измерения достаточно точные...
С наступающим!
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение Посетить сайт автора
injener
Дед

Сообщения: 3196
Зарегистрирован: 21.12.2004
Откуда: Московская область
СообщениеДобавлено: Вт 30 Декабрь 2008 11:31    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Цитата:
для калибровки увеличений в ПЭМ используется тестовый образец
Калибровка увеличений и аттестация прибора - вещи абсолютно разные. Но аттестация включает и калибровку конечно. Кстати, а тестовый образец на чем тестируется? Wink
С наступающим!
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение Отправить e-mail
SeregaK
Бывалый

Сообщения: 100
Зарегистрирован: 25.07.2005
Откуда: Новосибирск, Россия
СообщениеДобавлено: Ср 31 Декабрь 2008 09:49    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Господа, вы затронули весьма щекотливую тему. На последних конференциях, посвященных вопросам метрологии и стандартизации, это интенсивно обсуждается. Главный вопрос сводится к следующему- просвечивающая электронная микроскопия уже много лет позволяет получать изображения с разрешением, заведомо достаточным для визуализации кристаллической решетки, которая сама является самым настоящим стандартом, а заговорили о стандартизации только сейчас. Очевидно, в области межатомных расстояний проблем со стандартами нет. А вот когда речь идет о диапазоне 1-100 нм - тут таких решеток нет. Для бОльших расстояний стандарты создаются разными способами, но эти стандарты привязываются к длине волны оптического излучения, которую можно измерять достаточно точно. Таким образом, (это к последнему вопросу) тестовые образцы, которые на данный момент существуют, сертифицированны и используются для калибровки поверяются с помощью, например, интерферометра.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение Отправить e-mail ICQ Number
pust2
Бывалый

Сообщения: 329
Зарегистрирован: 07.08.2006
Откуда: Владивосток
СообщениеДобавлено: Пн 12 Январь 2009 08:44    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Всем, привет!
Так я и не понял чем отличается калибровка от аттестации? Shocked

Для 100 нм, можно использовать 20 периодов решетки полученных эпитаксией ....
а для 1000 нм есть калибры оптического диапазона, типа реплики

ЗЫ. Как я понял никто этим не занимался, к сожалению...

ЗЫЫ. Чисто теоретически, как я понимаю, в ПЭМ достаточно откалибровать увеличение, длину колоны для дифрации, и если есть микроанализ-EELS, что еще ?
А, ну еще дозу электронов-плотность тока...
Линейность (динамический диапазон) ПЗС - имееет смысл?

У скана, увеличение, токи пучка, микроанализ, что еще?
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение Посетить сайт автора
Sergey
Дед

Сообщения: 1917
Зарегистрирован: 05.11.2004
Откуда: Санкт-Петербург
СообщениеДобавлено: Пн 12 Январь 2009 09:32    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

pust2 писал(а):

Так я и не понял чем отличается калибровка от аттестации?

За аттестацию надо платить Rolling Eyes

_________________
Он же: SergeyIT, Cthutq.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение Отправить e-mail
pust2
Бывалый

Сообщения: 329
Зарегистрирован: 07.08.2006
Откуда: Владивосток
СообщениеДобавлено: Пн 12 Январь 2009 09:55    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Цитата:

За аттестацию надо платить


Не вопрос, заложим в стоимсть анализа...

Только скажите кому платить и за что...
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение Посетить сайт автора
Sergey
Дед

Сообщения: 1917
Зарегистрирован: 05.11.2004
Откуда: Санкт-Петербург
СообщениеДобавлено: Пн 12 Январь 2009 10:07    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Документы
http://metroatom.ru/docs/?name_down=&rt_label=r&PAGEN_1=32
http://metroatom.ru/docs/doc_metrology/10137/

_________________
Он же: SergeyIT, Cthutq.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение Отправить e-mail
injener
Дед

Сообщения: 3196
Зарегистрирован: 21.12.2004
Откуда: Московская область
СообщениеДобавлено: Пн 12 Январь 2009 17:40    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Цитата:
чем отличается калибровка от аттестации?
Тем, что калибровка - это просто проверка параметров прибора, а аттестация - это процесс, включающий в себя, кроме проверки, составление соответствующих протоколов и утверждение данного прибора в качестве пригодного для определенного рода работ в законодательном порядке. Если прибор аттестован, то может быть использован для измерений на уровне единых стандартов. И тогда любой чиновник или производитель может ссылаться на результаты этих измерений при возникновении спорных вопросов. Если не аттестован, то только сам пользователь уверен в том, что он правильно меряет. А в суде это доказать невозможно!
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение Отправить e-mail
Bigamur
Новенький

Сообщения: 11
Зарегистрирован: 01.04.2008
СообщениеДобавлено: Вт 13 Январь 2009 18:12    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

На сайте www.nicpv.ru есть полная информация по данному вопросу. Удачи! Потребуется много много "таньги" и времени на всю процедуру.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
injener
Дед

Сообщения: 3196
Зарегистрирован: 21.12.2004
Откуда: Московская область
СообщениеДобавлено: Вт 13 Январь 2009 18:19    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

На этом сайте я был, когда мы продукцию свою сертифицировали. Кстати, не так уж и много таньги потребовалось... Wink
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение Отправить e-mail
Bigamur
Новенький

Сообщения: 11
Зарегистрирован: 01.04.2008
СообщениеДобавлено: Вт 13 Январь 2009 18:20    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

На сайте www.nicpv.ru (Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии) есть полная информация по данному вопросу. Удачи! Потребуется много много "таньги" и времени на всю процедуру.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
snigela
Бывалый

Сообщения: 54
Зарегистрирован: 03.07.2008
Откуда: ЮФУ, Ростов-на-Дону
СообщениеДобавлено: Чт 23 Май 2013 20:00    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Ищу информацию о тест объектах (нм-диапазон) и прихожу в России в одно и тоже место fasi.gov.ru/fcp/compl/katalog/Nano/R45.doc
Поделитесь опытом. Этот тест-объект покупают, берут в аренду или заказывают поверку? Какие цены на такие услуги (покупку)?
Есть ли другие аттестованные или (доморощенные) тест-объекты и (методы).
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
pust2
Бывалый

Сообщения: 329
Зарегистрирован: 07.08.2006
Откуда: Владивосток
СообщениеДобавлено: Пт 24 Май 2013 01:23    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Мы купили NIST-овский (MRS-5 Magnification Reference Standard) тест-объект для скана, а для просвета MAG*I*CAL
Многие фирмы продают, стоят гораздо дешевле чем российский...
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение Посетить сайт автора
Abkby
Бывалый

Сообщения: 151
Зарегистрирован: 05.08.2011
Откуда: Москва
СообщениеДобавлено: Пт 24 Май 2013 14:26    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Посмотрите на tedpella com
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
Показать сообщения:   
Начать новую тему   Ответить на темуОтветить
Страница 1 из 1


о проекте || новости || публикации || оборудование || события
фотогалерея
|| форум || спонсоры || ссылки

©2002 - Microscopist.ru - портал микроскопистов
:главная :контакты :карта сайта :faq :помощь Rambler's Top100 Рейтинг@Mail.ru
Powered by phpBB © 2001-2003 phpBB Group | Часовой пояс: GMT + 3