Начало div  FAQ  div  Поиск  div  Пользователи  div  Группы  div  Избранное  div  Регистрация  div  Вход 
Список форумов Microscopist.ru arrow РЭМ (Методы) arrow Определение параметра решетки в EBSD

Определение параметра решетки в EBSD
Начать новую тему   Ответить на темуОтветить
Автор Сообщение
newulens
Новенький

Сообщения: 13
Зарегистрирован: 13.06.2011
СообщениеДобавлено: Пн 23 Январь 2017 21:44    Заголовок сообщения: Определение параметра решетки в EBSD Ответить с цитатой

Здравствуйте, коллеги!
Есть поликристаллический однофазный образец керамики с кубической решеткой (NaCl). Проводя анализ картин EBSD (пакет ПО HKL Channel ) возник вопрос - можно ли каким-то образом извлечь информацию о параметре решетки данного образца в точке, и соответственно распределение параметра решетки по образцу (керамика не стехиометрическая). Возможно ли это? Есть ли какое-либо специализированное ПО для таких задач?


Заранее благодарен за ответы) Smile
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
Eugene
Бывалый

Сообщения: 118
Зарегистрирован: 15.02.2006
Откуда: Новосибирск, ИНХ СО РАН
СообщениеДобавлено: Вт 24 Январь 2017 05:00    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Скорее всего нет. Параметры решетки в EBSD определяются очень приблизительно.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
newulens
Новенький

Сообщения: 13
Зарегистрирован: 13.06.2011
СообщениеДобавлено: Вт 24 Январь 2017 12:46    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Про проблемы с точностью - понятно. Погрешность от расстояния до детектора и прочее и прочее. Пока вопрос наверное надо сформулировать так - есть ли вообще возможность выудить из стандартного софта параметр решетки? Или нет.
Пока что нашел пару статей (EBSDL: a computer program for determining an unknown Bravais lattice using a single electron backscatter diffraction pattern Ming Han) одних и тех же авторов, которые написали программу для вытаскивания параметра решетки из дифракционной картинки, буду добывать программу.
Если о точности, то как я понимаю, если увеличить расстояние образец-детектор и уменьшить ускоряющее напряжение, кикучи-линии станут шире, и таким образом можно повысить точность Rolling Eyes .
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
Dusha
Дед

Сообщения: 2199
Зарегистрирован: 23.01.2003
СообщениеДобавлено: Вт 24 Январь 2017 20:59    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Простите, если выскажу мнение дилетанта, поскольку сам EBSD никогда не делал.
По моим скромным понятиям, EBSD концептуально то же самое, что и CBED (точнее картинка Киккучи).
Последняя является самым точным методом определения межплоскостных на масштабе нанометров - для абсолютных измерений надо калибровать высокое, для напряжений - ничего не надо. Точность до 0.5*10-4, статейки пописывали в свое время на эту тему. Есть простенькая прога, которая вручную (в точке, не картирование) измеряет положение Киккучей, но очень точно.
Расстояние до детектора (увеличение) там особого значения не имеет, параметр прячется в том, как линии пересекаются, тем метод и хорош.

Момент практический: мой аспирант, который занимается в частности пластическими деформациями стали, приносит с EBSD две картинки - карту ориентаций и карту напряжений. Спрошу его, чем пользуется, и отпишу.

_________________
- Мудрый Каа, что же нам делать?!!
- Ждитессссссс.......
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
Eugene
Бывалый

Сообщения: 118
Зарегистрирован: 15.02.2006
Откуда: Новосибирск, ИНХ СО РАН
СообщениеДобавлено: Ср 25 Январь 2017 05:52    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

По-моему проще сделать РФА анализ, который покажет уширение и смещение линий дифракции и карту распределения элементов по аншлифу.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
newulens
Новенький

Сообщения: 13
Зарегистрирован: 13.06.2011
СообщениеДобавлено: Ср 25 Январь 2017 11:39    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Понимаете в чем дело, задача состоит в необходимости локального анализа - грубо говоря диффузионной зоны. Мне надо качественно показать параметр решетки там меняется при переходе от одной частице к другой или нет. Поточечный EBSD это идеальный вариант, по-моему. Осталось только найти программку для расчета параметра по картинке линий. Cool
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
Dusha
Дед

Сообщения: 2199
Зарегистрирован: 23.01.2003
СообщениеДобавлено: Ср 25 Январь 2017 22:06    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Программа называется is Orientation Imaging Microscopy (OIM) Analysis™
Если Вы мне пришлете мне пример нескольких картинок от искаженной и неискаженной решеток, я могу попробовать как моя самопальная программа с этим справляется.
Там еще кое-какие данные потребуются, типа ускоряющего, самой решетки, зоны .... ну и пожалуй все.

_________________
- Мудрый Каа, что же нам делать?!!
- Ждитессссссс.......
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
Показать сообщения:   
Начать новую тему   Ответить на темуОтветить
Страница 1 из 1


о проекте || новости || публикации || оборудование || события
фотогалерея
|| форум || спонсоры || ссылки

©2002 - Microscopist.ru - портал микроскопистов
:главная :контакты :карта сайта :faq :помощь Rambler's Top100 Рейтинг@Mail.ru
Powered by phpBB © 2001-2003 phpBB Group | Часовой пояс: GMT + 3