Начало div  FAQ  div  Поиск  div  Пользователи  div  Группы  div  Избранное  div  Регистрация  div  Вход 
Список форумов Microscopist.ru arrow Микроанализ arrow Обратн. задача в колич. МА, анализ алгоритмов. Ищу информац.

Обратн. задача в колич. МА, анализ алгоритмов. Ищу информац.
Начать новую тему   Ответить на темуОтветить
Автор Сообщение
ed1912
Новенький

Сообщения: 5
Зарегистрирован: 27.08.2004
СообщениеДобавлено: Чт 26 Май 2005 12:15    Заголовок сообщения: Обратн. задача в колич. МА, анализ алгоритмов. Ищу информац. Ответить с цитатой

Добрый день, коллеги!

Кто может поделиться информацией? Я ищу статьи, относящиеся к описанию вычислительных алгоритмов и методов, применяемых в рентгеновской спектрометрии. Меня интересует решение обратной задачи для метода фундаментальных параметров в XRA и MA, интересуют итерационные процедуры и сравнение точности и сходимости алгоритмов, регуляризационные процедуры, статанализ. Сам же метод фундаментальных параметров, то есть вывод физических уравнений связи, описан довольно подробно в различных модификациях. Самое содержательное, что я знаю по поводу вычислительных алгоритмов, это обзор D.R. Biemen, J.A. Jsasi, A Critical Examination of Computer Programs Used in Quantitative Electron Microprobe Analysis, Anal. Chem. 1970, v.42, p.p. 1540-1568. Не может быть, чтобы с тех пор не было дополнительных исследований.
Ed1912
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
Dusha
Дед

Сообщения: 2195
Зарегистрирован: 23.01.2003
СообщениеДобавлено: Чт 26 Май 2005 12:51    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Это не то, что называется деконволюцией спектров? Мне последние годы встречалась пара статей по деконволюции EEL спектров, но поскольку это не моя тема, то и ссылки не сохранил.

Из общей литературы есть вот такая статья: Nonlinear Inverse Problems: Theoretical
Aspects and Some Industrial Applications
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
ed1912
Новенький

Сообщения: 5
Зарегистрирован: 27.08.2004
СообщениеДобавлено: Чт 26 Май 2005 13:20    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Спасибо за быструю реакцию. Нет, это не то, что я ищу. Метод ФП (например ZAF): есть из физики k=f(c1,..cn), ищем c=g(k1,..kn). Решается методом итераций. Должно быть по смыслу c1+...cn=1. Но это не так в ответе. Старые руководства рекомендовали 2 ответа с нормировкой и без. Абсурд. Есть проблемы со сходимостью алоритмов. Многокомпонентный статанализ как таковой не существует для этой темы. О проблеме посмотрите упомянутый обзор.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
Dusha
Дед

Сообщения: 2195
Зарегистрирован: 23.01.2003
СообщениеДобавлено: Чт 26 Май 2005 16:11    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

А, так это к количественному анализу, а не к повышению разрешения.... Прошу прощения.
С полгода назад у нас была тут дискуссия на эту тему, поищите по форуму, там много сетевых ссылок всплыло.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
ed1912
Новенький

Сообщения: 5
Зарегистрирован: 27.08.2004
СообщениеДобавлено: Чт 26 Май 2005 19:10    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Не подскажете поточнее тема как звучала или ключевые слова?
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
Dusha
Дед

Сообщения: 2195
Зарегистрирован: 23.01.2003
СообщениеДобавлено: Чт 26 Май 2005 19:59    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Да вот здесь же в этом форуме: "Программа для ZAF коррекции"...
Или это не то?
А то составьте мне формулу для библиографического запроса, я тут у нас прогоню....
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
ed1912
Новенький

Сообщения: 5
Зарегистрирован: 27.08.2004
СообщениеДобавлено: Пт 27 Май 2005 23:28    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Да, дисскусия на тему "Программа для ZAF коррекции" была тоже для меня интересна. Указанные в дискуссии программы напрямую не работали на моей PC под W-Millenium 2000, точнее переходы между модулями (вызовы). Я запустил тогда оболочку Q-Basic и загрузил исходники. Сработало. Я попробовал перетранслировать программу Henrik Kaker с Q-Basic на VB для своих целей как наиболее простую. Попытка окончилась неудачей, программа считает неверно. Это пока все. Но я с этим разберусь.
Сейчас речь идет о другом. Известна была еще 20 лет назад плохая сходимость метода итераций как следствие некорректности обратной задачи. Программа Frame применяла гиперболическую схему итераций. Поставлю вопрос по-другому. Кто может заглянуть в руководства и сказать какую схему итераций применяет CAMECA, JEOL или другие фирмы сегодня? Что предлагается в качестве ответа, нормированный или ненормированный результат? Я к сожалению не имею доступа к документации приборов. Кто знает статьи на эту тему? Кто может поделиться полноценным VB или FORTRAN исходником для ZAF?
Цитата:

Программа для ZAF коррекции
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
Dusha
Дед

Сообщения: 2195
Зарегистрирован: 23.01.2003
СообщениеДобавлено: Пн 30 Май 2005 15:17    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Ну не могу отпустить Вас ни с чем Smile
Вот вроде, то что Вам надо и довольно свеженькое. Судя по кол-ву ссылок отсюда можно вытянуть и остальное. Самой статьи к сожалению у меня нет Sad

Reference Type: Journal Article
Record Number: 37
Author: Osan, J.; de Hoog, J.; Van Espen, P.; Szaloki, I.; Ro, C. U.; Van Grieken, R.
Year: 2001
Title: Evaluation of energy-dispersive X-ray spectra of low-Z elements from electron-probe microanalysis of individual particles
Journal: X-Ray Spectrometry
Volume: 30
Issue: 6
Pages: 419-26
Short Title: Evaluation of energy-dispersive X-ray spectra of low-Z elements from electron-probe microanalysis of individual particles
Keywords: Bremsstrahlung
Electron probe analysis
Least squares approximations
Monte Carlo methods
X-ray chemical analysis
Electromagnetic radiation spectrometry (chemical analysis) [A8280D]
Chemical analysis and related physical methods of analysis [A8280]
energy-dispersive X-ray spectra
electron-probe microanalysis
low-Z elements
EPMA
thin-window energy-dispersive X-ray detector
X-ray intensity determination
L lines
M lines
K lines
detector window transmission
bremsstrahlung background
nonlinear least-squares fitting algorithm
AXIL
EP-PROC
iterative Monte Carlo simulation
light-element concentrations
1 keV
0.3 to 10 micron
Abstract: Several applications require the determination of low-Z elements such as C, N and O in individual microparticles. Electron-probe microanalysis (EPMA) using a thin-window energy-dispersive X-ray detector offers the possibility to detect light elements. To achieve at least semi-quantitative information on the chemical composition of each individual particle, accurate determination of X-ray intensities is critical. The energy-dispersive X-ray spectra under 1 keV are complex. The L and M lines of heavier elements can strongly overlap with light-element K lines. Also, the transmission of the detector window and the shape of the bremsstrahlung background should be taken into account. As there is a strong overlap of the characteristic lines, the 'top-hat' filter used for on-line evaluation of conventional computer-controlled EPMA spectra cannot be applied for thin-window EPMA spectra under 1 keV. Therefore, the spectra was processed using a non-linear least-squares fitting algorithm (AXIL). The applicability and the limitations of the method were tested by a series of measurements of particulate standards in the size range of 0.3-10 mu m, made from analytical-reagent grade chemicals. The composition and thickness of the thin window of the detector were modelled using the transmission data given by the manufacturer. The elemental composition of each individual particle was approximated using a new data evaluation method (EP-PROC) based on an iterative Monte Carlo simulation combined with successive approximations. The dependence of the K/L intensity ratios of the elements Ca-Zn on the size and composition of the particles was studied extensively by Monte Carlo simulations and measurements of standard particles. By taking into account the L-line contributions of K, Ca, Ti or Cr in the spectral evaluation, the estimation of the light-element concentrations was improved significantly, especially when K, Ca, Ti or Cr were present at high concentrations. (23 References).
Notes: Publisher: Wiley, UK.
Electron volt energy 1.0E+03 eV Size 3.0E-07 to 1.0E-05 m
English
Journal Paper
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
ed1912
Новенький

Сообщения: 5
Зарегистрирован: 27.08.2004
СообщениеДобавлено: Пн 30 Май 2005 17:08    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Спасибо! Посмотрю статью, доложу о впечатлениях
ed1912
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
greeg
Гуру

Сообщения: 446
Зарегистрирован: 04.05.2006
Откуда: Ukraine
СообщениеДобавлено: Пт 01 Сентябрь 2006 20:59    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Цитата:

обзор D.R. Biemen, J.A. Jsasi, A Critical Examination of Computer Programs Used in Quantitative Electron Microprobe Analysis, Anal. Chem. 1970, v.42, p.p. 1540-1568.

Уважаемый ed1912, выложите пожалуйста этот обзор в библиотеку. Очень хотелось бы почитать. Или скиньте его мне по мылу (в личке). пожалуйста.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение Отправить e-mail ICQ Number
VLADIMIR
Бывалый

Сообщения: 97
Зарегистрирован: 16.10.2006
Откуда: Новосибирск
СообщениеДобавлено: Вт 17 Октябрь 2006 06:15    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Если ещё интересуетесь обратными задачами - посмотрите докторскую Б. Китова: "Инструментальная коррекция матричных эффектов при использовании рентгеноспектрального иетода для количественного анализа химического состава и идентификации компонентов вещества". Специальность 02.00.02 - аналитическая химия, Иркутск 2001. Это последнее, что я встречал по этому вопросу. Владимир.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
greeg
Гуру

Сообщения: 446
Зарегистрирован: 04.05.2006
Откуда: Ukraine
СообщениеДобавлено: Вт 17 Октябрь 2006 08:57    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Цитата:

посмотрите докторскую Б. Китова: "Инструментальная коррекция матричных эффектов при использовании рентгеноспектрального иетода для количественного анализа химического состава и идентификации компонентов вещества". Специальность 02.00.02 - аналитическая химия, Иркутск 2001.

Дайте пожалуйста почитать Very Happy , верну в целости и сохранности. А лучше разместить ее в нашей электронной библиотеке http://www.microscopist.ru/forum/viewtopic.php?t=218
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение Отправить e-mail ICQ Number
VLADIMIR
Бывалый

Сообщения: 97
Зарегистрирован: 16.10.2006
Откуда: Новосибирск
СообщениеДобавлено: Ср 18 Октябрь 2006 15:22    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Обратитесь непосредственно к Борису Ивановичу по <Пожалуйста, все e-mails через личку, также как и расшифровку ника - персонально. Администратор.>. Обратные задачи заманчивы, но, полагаю, бесперспективны в настоящее время. С уважением.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
Показать сообщения:   
Начать новую тему   Ответить на темуОтветить
Страница 1 из 1


о проекте || новости || публикации || оборудование || события
фотогалерея
|| форум || спонсоры || ссылки

©2002 - Microscopist.ru - портал микроскопистов
:главная :контакты :карта сайта :faq :помощь Rambler's Top100 Рейтинг@Mail.ru
Powered by phpBB © 2001-2003 phpBB Group | Часовой пояс: GMT + 3