Начало div  FAQ  div  Поиск  div  Пользователи  div  Группы  div  Избранное  div  Регистрация  div  Вход 
Список форумов Microscopist.ru arrow РЭМ (Методы) arrow Пробоподготовка металлов РЭМ. Новичок.

Пробоподготовка металлов РЭМ. Новичок.
На страницу Пред.  1, 2, 3, 4  След.
Начать новую тему   Ответить на темуОтветить
Автор Сообщение
vklsi2
Бывалый

Сообщения: 299
Зарегистрирован: 18.02.2009
СообщениеДобавлено: Вт 13 Ноябрь 2012 11:50    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Да, кстати, важна и модель приставки EBSD, а также какого она года выпуска.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
MilanoMaria
Бывалый

Сообщения: 34
Зарегистрирован: 12.11.2012
СообщениеДобавлено: Вт 13 Ноябрь 2012 12:05    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Scanning Electron Microscope, SE, BSE detectors, EDS - по крайней мере так значится в описании. Energy Dispersive Spectroscopy - получается, что не дифракция отражённых электронов? Решила, что это эквивалент EBSD. Ошиблась! Значит, не смогу посмотреть структурные составлящие подробно? А год выпуска не знаю. Не указан. Смогу только завтра спросить. Есть ещё с высоким разрешением, но там не указано ни EDS ни SE.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
Eugene
Бывалый

Сообщения: 118
Зарегистрирован: 15.02.2006
Откуда: Новосибирск, ИНХ СО РАН
СообщениеДобавлено: Вт 13 Ноябрь 2012 12:17    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

С помощью BSE детектора можно получить картинки в обратно-рассеянных электронах, такие, как Вам прислал venelt, из них можно вычислить зернистость, но не структуру ни ориентацию Вы не увидите. EDS определяет элементный состав образца.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
MilanoMaria
Бывалый

Сообщения: 34
Зарегистрирован: 12.11.2012
СообщениеДобавлено: Вт 13 Ноябрь 2012 12:22    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Простите мою невежественность. Эелементный состав - это то же, что химический? Как же тогда посмотреть структурные составляющие: бейнит и прелит, есть ли всё же там участки мартенсита и остаточный аустенит? Поможет ли XRD?
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
vklsi2
Бывалый

Сообщения: 299
Зарегистрирован: 18.02.2009
СообщениеДобавлено: Вт 13 Ноябрь 2012 12:32    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Меньше всего проблем у Вас будет, если воспользуетесь простеньким 6300 (без буквы F в конце). Если все-таки магнитное поле образца будет мешать, надо играть высотой образца относительно полюсного наконечника объективной линзы и, может быть, наклоном. Но не увлекаться, иначе может сорвать образец с держателя. В любом случае магнитные образцы нужно очень хорошо крепить в держателе (Если сорвет образец, разобьете BSE детектор).
Если все это не поможет, придется пилить образец, т.е. уменьшать навеску.
Если нет EBSD, то ориентационный контраст можно попробовать (!) увидеть с помощью BSE детектора, но нужно приготовить образец как для EBSD (т.е. по Бюлеровской методе).
А где Вы работаете? Может, дадите ссылку на сайт, чтобы посмотреть, что конкретно у вас еще есть?
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
MilanoMaria
Бывалый

Сообщения: 34
Зарегистрирован: 12.11.2012
СообщениеДобавлено: Вт 13 Ноябрь 2012 12:46    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Видимо поэтому сотрудник так и опасается за магнитность моих образцов. Я учусь в иностранном ВУЗе и как аспирант делаю свою исследовательскую работу. Образцы термообработали в России. Вот и хочу, пока я здесь, выудить побольше информации о структуре, поскольку оптика на 2000 раз не даёт исчерпывающий ответ. Очень уж она плотная у нас получается. Оборудование, которое имеет университет, можно посмотерть на этом сайте http://www.mcpf.ust.hk/mcpf/index.php?middle=equip/lab.php
А что за метода такая для ESBS?
Кстати, меня к к оборудованию саму не подпустят, т.к. для это спецкурс пройти надо, а у меня разрешения нет на это. Моя задача подготовить образец и проанализировать полученный с SEM результат.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
Eugene
Бывалый

Сообщения: 118
Зарегистрирован: 15.02.2006
Откуда: Новосибирск, ИНХ СО РАН
СообщениеДобавлено: Вт 13 Ноябрь 2012 12:53    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Элементный состав это какие элементы и в каком количестве присутствуют в образце. XRD вам поможет определить структурные составляющие, если их больше определенного предела (0,1 - 5 % зависит от дифрактометра). Ориентацию с помощью XRD Вам вряд ли удастся вытащить.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
vklsi2
Бывалый

Сообщения: 299
Зарегистрирован: 18.02.2009
СообщениеДобавлено: Вт 13 Ноябрь 2012 13:04    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Цитата:

Оборудование, которое имеет университет, можно посмотерть на этом сайте http://www.mcpf.ust.hk/mcpf/index.php?middle=equip/lab.php


Начинать Вам надо с микроскопов 6300 и 6390. На 6300 есть элементный анализ.
Цитата:

А что за метода такая для ESBS?

Так Вам же Venelt прислал постер...
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
vklsi2
Бывалый

Сообщения: 299
Зарегистрирован: 18.02.2009
СообщениеДобавлено: Вт 13 Ноябрь 2012 13:06    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

С препарированием у Вас вообще не будет проблем, я думаю: есть все, что душе угодно.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
Eugene
Бывалый

Сообщения: 118
Зарегистрирован: 15.02.2006
Откуда: Новосибирск, ИНХ СО РАН
СообщениеДобавлено: Вт 13 Ноябрь 2012 13:08    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

EBSD это относительно новый метод исследования в электронной микроскопии. Позволяет получить много интересной информации об образце: структуру, зернистость, ориентацию зерен, напряжение в них и др. К сожалению ни один из микроскопов Вашего университета не обладает приставкой для дифракции. Этот метод надо осваивать довольно долго, также как и пробоподготовку для него.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
MilanoMaria
Бывалый

Сообщения: 34
Зарегистрирован: 12.11.2012
СообщениеДобавлено: Вт 13 Ноябрь 2012 14:53    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

vklsi2 писал(а):

Так Вам же Venelt прислал постер...

Если Вы о той самой, тогда всё понятно)
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
MilanoMaria
Бывалый

Сообщения: 34
Зарегистрирован: 12.11.2012
СообщениеДобавлено: Вт 13 Ноябрь 2012 14:54    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Eugene писал(а):
EBSD это относительно новый метод исследования в электронной микроскопии. Позволяет получить много интересной информации об образце: структуру, зернистость, ориентацию зерен, напряжение в них и др. К сожалению ни один из микроскопов Вашего университета не обладает приставкой для дифракции. Этот метод надо осваивать довольно долго, также как и пробоподготовку для него.

Понятно. Буду пользоваться теми, что есть. Всё равно больше получу, чем с оптики. Спасибо.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
MilanoMaria
Бывалый

Сообщения: 34
Зарегистрирован: 12.11.2012
СообщениеДобавлено: Вт 13 Ноябрь 2012 15:19    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

А элементный анализ мне как раз и нужен, т.к. от углерода зависят температуры, при которых происходят превращения, а значит и конечная структура и мех.свойства. Начну с 6300. Посмотрим, что выйдет.
Как здорово, что существуют такие форумы. Ушли бы недели, чтобы разобраться самостоятельно.
Какое вам всем спасибо, дорогие микроскописты! Exclamation
Что бы я одна делала, да ещё в незнакомой стране. Вообще не предполагалось мной, что буду структурой тут заниматься, да ещё и в одиночку. Меня больше теплофизика процесса охлаждения волновала. Но теперь буду готовить серьёзную главу ещё и по металловедению. Хороший материал для диссертации. Что ж, за дело. Надеюсь, всё получится.
Крепко жму всем вам руку. Не перевелись ещё настоящие профессионалы в России!
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
vklsi2
Бывалый

Сообщения: 299
Зарегистрирован: 18.02.2009
СообщениеДобавлено: Вт 13 Ноябрь 2012 17:32    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Цитата:

от углерода зависят температуры

Ээээ... Да Вы не понимаете еще, во что ввязываетесь с углеродом, да в сталях. Читать Вам не перечитать Smile
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
MilanoMaria
Бывалый

Сообщения: 34
Зарегистрирован: 12.11.2012
СообщениеДобавлено: Вт 13 Ноябрь 2012 17:59    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

vklsi2 писал(а):
Цитата:

от углерода зависят температуры

Ээээ... Да Вы не понимаете еще, во что ввязываетесь с углеродом, да в сталях. Читать Вам не перечитать Smile

Что Вы имеете в виду? Знаю, что это важно для того, чтоб найти соответствующую диаграмму изотермического превращения. Она позволяет прогнозировать, что можем мы получить, по крайней мере примерно, какие структуры. А что действительно получим - так это только анализ делать. Но предварительно для посановки эксперимента это полезно и для проектирования устройства для данного профиля проката. Это чистая теория, но без неё сложно что-либо прогнозировать.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
vklsi2
Бывалый

Сообщения: 299
Зарегистрирован: 18.02.2009
СообщениеДобавлено: Вт 13 Ноябрь 2012 18:36    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Нет, я имею в виду анализ углерода в сталях с помощью энергодисперсионного рентгеновского спектрометра (ЭДС, EDS), который установлен на вашем 6300. У него слишком низка чувствительность по углероду, Вы, скорее всего, просто не сможете увидеть углерод в сталях. А если увидите, то это будет углерод из паров масла диффузионного насоса, которым оснащены все (по-моему, именно так, - все) ваши микроскопы.
Что говорить, на все четыре микроскопа у вас даже нет ни одного волнового спектрометра, который имеет чувствительность на порядок выше ЭДС, но даже с ним Вы вряд ли почувствовали бы углерод в сталях. Но по этому вопросу на форуме есть отдельные специалисты, например, VLADIMIR. C их помощью Вы даже сможете завести себе еще одну главу - по рентгеновскому микроанализу.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
Abkby
Бывалый

Сообщения: 151
Зарегистрирован: 05.08.2011
Откуда: Москва
СообщениеДобавлено: Вт 13 Ноябрь 2012 18:48    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Количественный анализ углерода на EDS практически невозможен - нельзя учесть влияние нагара в точке анализа и флюоресценции в окне детектора. А уж малые его количества в сталях... Вообще исключено, и думать забудьте.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
MilanoMaria
Бывалый

Сообщения: 34
Зарегистрирован: 12.11.2012
СообщениеДобавлено: Ср 14 Ноябрь 2012 05:10    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Понятно. Благодарю за разъяснения!
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
Eugene
Бывалый

Сообщения: 118
Зарегистрирован: 15.02.2006
Откуда: Новосибирск, ИНХ СО РАН
СообщениеДобавлено: Ср 14 Ноябрь 2012 05:40    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

MilanoMaria, Вы из какого города? Может Вам проще в России с кем-нибудь договорится?
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
MilanoMaria
Бывалый

Сообщения: 34
Зарегистрирован: 12.11.2012
СообщениеДобавлено: Ср 14 Ноябрь 2012 06:48    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Eugene, в том и дело, что не проще. Я прохожу стажировку в университете Китая. И здесь мне нужно исследовать свои образцы. И по окончании написать отчёт. Поэтому раз уж я здесь, и университет даёт такие возможности, то, конечно, буду пользоваться. Другое дело, что я с микроскопией до последних дней плотного контакта никогда не имела. Потому разбираться ещё и разбираться. А вот без форума у меня на это ушли бы недели, если не месяцы. А обзорный курс здесь я взять не могу по условиям стажировки. Поэтому всё самой. Ну, и помощь этого форума, конечно.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
Показать сообщения:   
Начать новую тему   Ответить на темуОтветить
Страница 2 из 4 На страницу Пред.  1, 2, 3, 4  След.


о проекте || новости || публикации || оборудование || события
фотогалерея
|| форум || спонсоры || ссылки

©2002 - Microscopist.ru - портал микроскопистов
:главная :контакты :карта сайта :faq :помощь Rambler's Top100 Рейтинг@Mail.ru
Powered by phpBB © 2001-2003 phpBB Group | Часовой пояс: GMT + 3