Начало div  FAQ  div  Поиск  div  Пользователи  div  Группы  div  Избранное  div  Регистрация  div  Вход 
Список форумов Microscopist.ru arrow Метрология arrow Увеличение микроскопа

Увеличение микроскопа
На страницу Пред.  1, 2, 3
Начать новую тему   Ответить на темуОтветить
Автор Сообщение
Dusha
Дед

Сообщения: 2199
Зарегистрирован: 23.01.2003
СообщениеДобавлено: Ср 27 Декабрь 2006 01:47    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Цитата:

И где же здесь знак равенства простите

А какова информативность этого утверждения в таком случае?

_________________
- Мудрый Каа, что же нам делать?!!
- Ждитессссссс.......
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
Kirill
Бывалый

Сообщения: 96
Зарегистрирован: 16.10.2006
СообщениеДобавлено: Ср 07 Март 2007 13:04    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Я наверное задам глупый вопрос и не втему, но все-таки, каков реальный размер частиц латекса?
А то меня с некоторых пор одолевают сомнения.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
injener
Дед

Сообщения: 3196
Зарегистрирован: 21.12.2004
Откуда: Московская область
СообщениеДобавлено: Ср 07 Март 2007 13:46    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Цитата:
каков реальный размер частиц латекса?
Диапазон достаточно велик: от микрона до десятков нанометров. Т.е., почти два порядка. Кроме того, он (латекс) имеет свойство временами слипаться в конгломераты. Частицы латекса, разделенные по размерам, используют в качестве эталонов для электронных микроскопов.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение Отправить e-mail
Dusha
Дед

Сообщения: 2199
Зарегистрирован: 23.01.2003
СообщениеДобавлено: Ср 07 Март 2007 23:36    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Цитата:

Частицы латекса, разделенные по размерам, используют в качестве эталонов для электронных микроскопов.

И в этом случае размер прописан на упаковке.

_________________
- Мудрый Каа, что же нам делать?!!
- Ждитессссссс.......
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
Kirill
Бывалый

Сообщения: 96
Зарегистрирован: 16.10.2006
СообщениеДобавлено: Пт 09 Март 2007 08:45    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Цитата:

И в этом случае размер прописан на упаковке.

Но у нас нет упаковки!
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
injener
Дед

Сообщения: 3196
Зарегистрирован: 21.12.2004
Откуда: Московская область
СообщениеДобавлено: Пн 12 Март 2007 12:41    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Цитата:
Но у нас нет упаковки!
А откуда же у вас латекс? Вы его сами делали, что-ли? Shocked В таком случае нужно измерить его, используя другие эталоны. Реплику с дифракционной решетки, например. Там постоянная решетки всегда известна. А значения увеличения на микроскопе Вы откуда берете? Индикация есть какая-нибудь?
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение Отправить e-mail
Kirill
Бывалый

Сообщения: 96
Зарегистрирован: 16.10.2006
СообщениеДобавлено: Ср 14 Март 2007 13:15    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Цитата:

А откуда же у вас латекс?

Латекс у нас давно уже без упаковки, мой Шеф сказал размер, но я хотел его проверить.
Придется поверить ему наслово.
Недавно появился другой прикол: меняется увеличение при одинаковых режимах работы линз.
Поэтому, наверное надо каждый раз снимать латекс.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
injener
Дед

Сообщения: 3196
Зарегистрирован: 21.12.2004
Откуда: Московская область
СообщениеДобавлено: Ср 14 Март 2007 16:04    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Цитата:
меняется увеличение при одинаковых режимах работы линз.
Ну, видимо режимы неодинаковые все же...
Цитата:
наверное надо каждый раз снимать латекс.
Обычная практика - эталонный образец снимается во время каждого просмотра. Мы этут тему где-то здесь уже муссировали неоднократно...
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение Отправить e-mail
Dusha
Дед

Сообщения: 2199
Зарегистрирован: 23.01.2003
СообщениеДобавлено: Чт 15 Март 2007 01:20    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Цитата:

меняется увеличение при одинаковых режимах работы линз.

Два варианта: непостоянна высота образца или нестабильно высокое.
На Вашем инструменте можно высоту менять? Тогда надо зафиксировать каким-то образом ток объектива и фокусировать при этом токе подстройкой высоты.
В случае высокого (должна так же сильно плыть длина камеры в режиме диффракции) - заменить опорные батарейки в блоке стабилизации высокого.

_________________
- Мудрый Каа, что же нам делать?!!
- Ждитессссссс.......
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
injener
Дед

Сообщения: 3196
Зарегистрирован: 21.12.2004
Откуда: Московская область
СообщениеДобавлено: Чт 15 Март 2007 11:28    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Цитата:
Вашем инструменте можно высоту менять?
Насколько я помню, там сумское что-то... Так ведь, Kirill?
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение Отправить e-mail
Kirill
Бывалый

Сообщения: 96
Зарегистрирован: 16.10.2006
СообщениеДобавлено: Вт 20 Март 2007 08:10    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Цитата:

Насколько я помню, там сумское что-то... Так ведь, Kirill?

Да ЭМВ-100ЛМ или АК.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
Dusha
Дед

Сообщения: 2199
Зарегистрирован: 23.01.2003
СообщениеДобавлено: Пн 07 Май 2007 14:49    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Цитата:

Методика прямого измерения диаметра зонда в просвечивающем электронном микроскопе существует очень давно

Вот, кстати, свежая статейка (правда в очень странном журнале) как раз про измерение профиля зонда:

Koji Nakamae, Masaki Chikahisa and Hiromu Fujioka,
Estimation of electron probe profile from SEM image through wavelet multiresolution analysis for inline SEM inspection,
Image and Vision Computing,
Volume 25, Issue 7,
Computer Vision Applications,
1 July 2007, Pages 1117-1123.
http://www.sciencedirect.com/science/article/B6V09-4M1TSVV-4/2/5b77e9f7c06f76c9eec0f992ee02d27a
Abstract: We propose an analytical estimation method of the electron probe profile from an SEM image through the wavelet analysis of the multiscale information for inline SEM inspection. Defocused electron probe profiles are calculated based on wave optical theory. The calculated profiles are well approximated with the distributions composed of several Gaussian distributions with different center positions and variances. Analytical equations to estimate standard deviations of blurring Gaussian functions included in the defocused electron probe profile from a sequence of wavelet transform modulus maxima are derived. By using a noisy blurred step edge signal, the estimation accuracy was evaluated as a function of SNR with the standard deviation of blurring Gaussian function as a parameter. The accuracy of better than 15% is obtained when the SNR becomes larger than 10. Our analytical estimation method is applied to the simulated secondary electron intensity profile blurred with the defocused electron probe profile. The probe profile similar to the calculated one is estimated.
Keywords: Wavelet multiresolution analysis; SEM image; Probe profile estimation; Electron probe; Inline SEM inspection

_________________
- Мудрый Каа, что же нам делать?!!
- Ждитессссссс.......
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
Ystirovka
Новенький

Сообщения: 17
Зарегистрирован: 24.03.2009
СообщениеДобавлено: Пт 27 Март 2009 10:33    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Методика из рублики «сделай сам» . 1. Берем образец 1200 л\мм . 2. Берем метал магний , стружка 1х1 мм. 3. Поджигаем магний, проносим образец сквозь белый шлейф .
4. Смотрим . на экране линии решетки с очень четкими кристаллами на них.
5. делаем серию снимков . выбираем реперную точку на увеличении х40\х50 тыс.
Выбрав одну грань Вы спокойно пройдете весь диапазон увеличения.
Но учтите образец стареет , после 20 лет он «растолстел» на 2\3% по сравнению с новым.
Удачи СУМЫ.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
Показать сообщения:   
Начать новую тему   Ответить на темуОтветить
Страница 3 из 3 На страницу Пред.  1, 2, 3


о проекте || новости || публикации || оборудование || события
фотогалерея
|| форум || спонсоры || ссылки

©2002 - Microscopist.ru - портал микроскопистов
:главная :контакты :карта сайта :faq :помощь Rambler's Top100 Рейтинг@Mail.ru
Powered by phpBB © 2001-2003 phpBB Group | Часовой пояс: GMT + 3