Начало div  FAQ  div  Поиск  div  Пользователи  div  Группы  div  Избранное  div  Регистрация  div  Вход 
Список форумов Microscopist.ru arrow ПЭМ (Методы) arrow Интегральные схемы, поиск дефектов

Интегральные схемы, поиск дефектов
Начать новую тему   Ответить на темуОтветить
Автор Сообщение
katya
Новенький

Сообщения: 8
Зарегистрирован: 24.11.2007
СообщениеДобавлено: Сб 24 Ноябрь 2007 14:02    Заголовок сообщения: Интегральные схемы, поиск дефектов Ответить с цитатой

Добрый день. Скажеите, пожалуйста, где можно найти информацию по:

- Методам электронно-микроскопического контроля элементов субмикронных СБИС и качества технологических процессов;
- измерению линейных размеров элементов, контролю состава микродефектов, активных структур, слоев металлизации мубмикронных СБИС с проектными нормами 0,25 мкм.

Особенно интересно найти фотографии ИС.

Спасибо.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение
Sergey
Дед

Сообщения: 1906
Зарегистрирован: 05.11.2004
Откуда: Санкт-Петербург
СообщениеДобавлено: Сб 24 Ноябрь 2007 21:59    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Может в библиотеке что-нибудь найдете.
http://www.microscopist.ru/forum/viewtopic.php?t=314

_________________
Он же: SergeyIT, Cthutq.
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение Отправить e-mail
Показать сообщения:   
Начать новую тему   Ответить на темуОтветить
Страница 1 из 1


о проекте || новости || публикации || оборудование || события
фотогалерея
|| форум || спонсоры || ссылки

©2002 - Microscopist.ru - портал микроскопистов
:главная :контакты :карта сайта :faq :помощь Rambler's Top100 Рейтинг@Mail.ru
Powered by phpBB © 2001-2003 phpBB Group | Часовой пояс: GMT + 3